Preisträger vor 2007

Preisträger 2004

Dr. Martin Tillmann, IPT Fraunhofer Institut für Produktionstechnologie, Aachen
Thema: „Innovative Prozesskettenoptimierung (IPO) – Ganzheitliche Qualitätsverbesserungen in der Produktion mit Hilfe systematischer Innovationsmethoden“

Preisträger 2002

Dr. Sandra Scheermesser, IPT Fraunhofer Institut für Produktionstechnologie, Aachen
Thema: „Messen und Bewerten von Geschäftsprozesse: Systematisch zu den richtigen Bewertungsgrößen mit der Qualitätsmerkmal-Bibliothek“

Preisträger 1998

Dr. Jürgen H. Bremer, IPK, Fraunhofer Institut für Produktionsanlagen und Konstruktionstechnik, Berlin
Thema: „Beschleunigte Evolutionsstrategie zur Optimierung von Fertigungsprozessen“

Preisträger 1996

Dr. Detlef Butterbrodt, Institut für Werkzeugmaschinen und Fabrikbetrieb, TU Berlin, Berlin
Thema: „Beitrag zur effizienten Gestaltung des betrieblichen Umweltschutzes im umfassenden Qualitätsmanagement“

Preisträger 1994

Thomas Zenner, WZL der RWTH Aachen, Aachen
Thema: „Wissensbasierte FMEA im Praxiseinsatz“

Preisträger 1992

Hans W. Kolligs, Rockwell Golde GmbH, Frankfurt a.M.
Thema: „Planung und Einführung eines computerunterstützten Qualitätssicherungssystems (CAQ) am Beispiel der Firma Rockwell Golde GmbH in Frankfurt am Main“

Josephine Dunthorne, strässle
Carl Worms, strässle, Technische Informationssystem AG
Thema: „Qualitätssicherung der Softwareentwicklung und eine überraschende Rückkopplung“

Preisträger 1990

Dr. Thomas Wolter, Siemens AG, ZPL 1 QA 2, München
Thema: „Qualitätsgesicherte Planung und Realisierung von flexiblen Fertigungssytemen (FFS) – Leitfaden für das Management, die planenden und die realisierenden Bereiche“

Preisträger 1988

Wilfried Oelmann, item communication, Beratung für gewerbliche Wirtschaft GmbH, Aschaffenburg
Thema: „Planung und Einsatz eines rechnergeführten Qualitätssicherungskonzeptes in der Automobilzuliefererindustrie“

Preisträger 1986

Arno Leisen, Leisen Unternehmensberatung, Computer-Integrated Manufacturing, Amtzell/Allgäu
Thema: „Kostengünstige Lösung für mehrdimensionale Meßprobleme“